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产品展示 |
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| 理化分析设备 >> 全反射X荧光光谱仪 |
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产品编号： |
TXRF |
产品名称： |
全反射X荧光光谱仪 |
规 格： |
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产品备注： |
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产品类别： |
理化分析设备 |
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| 产 品 说 明 |
全反射X荧光（TXRF）光谱仪是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL级以下）、用样量少（μL、ng级）、准确度高（可用内标法）、简便、快速，而且是无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。
TXRF分析技术用样量极少，也不需要制作样品的烦琐过程，又没有本底增强或减弱效应，不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法，对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面，有明显的优越性。
TXRF技术可以对从钠(11Na )到铀(92U)的所有元素进行分析，一次可以对近30种元素进行同时分析，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析（NAA）等方法相比较，TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有着综合优势。
在刑侦领域的应用
◆ 毒物检测
对于各类毒品，毒物，无论是液体还是固体都可以快速准确的检测。根据这些药物中含有的不同杂质元素，判定其化学合成方法或输入途径的差异。如果建立一个违禁药物的杂质元素数据库就可追踪其输入途径。
◆ 高仿假币的鉴别
通过对比真假钱币所含元素差异，可判别高仿假币
◆ 枪击案中的射击残留物鉴定
由于该设备需要检材量极少，不需样品前处理，在枪击案中的射击残留物鉴定方面有着独特的优势
◆ 小玻璃碎片的鉴别
玻璃碎片通常使用折射率仪器来分析，但当折射率一致时，TXRF分析技术就成为了一个更有效的分析工具，玻璃碎片中额外的痕量元素成分测定就成为刑侦鉴别的重要部分。
◆ 射击距离测定
射击距离测定是调查枪击案中一项重要的任务。这需要分析弹孔周围射击残留物中痕量元素的成分。可以根据弹孔周围射击残留物的浓度判断射击距离。
◆ 文检中的应用：分析文件中油墨的化学成分，可以做多种鉴定。
◆ 分析其他刑侦科学中各种微小样品，在刑侦领域中具有很大的应用潜力。
主要特点
◆ 多元素同时分析：一次可分析近30种元素；
◆ 检出限低：最低绝对检出限：pg级（10－12g）；最低相对检出限：ng/mL级（10－9）；
◆ 灵敏度高：采用了高灵敏度、高计数率的硅漂移（SDD）检测器
采用特殊的二次全反射光路使仪器在不同能量范围都能有较高灵敏度。
◆ 测量元素范围广
可以从11号元素Na到92号元素U；
◆ 样品用量少
μL、μg级；
◆ 直接测量
粉末样品、悬浮液样品等有平面的样品都可直接进行分析，最低检出限达到ng/g量级；
◆ 测量时间短
一般在100秒～1000秒；
◆ 安全稳定
使用功率小于0.5kW，无须大功率，安全可靠。
◆ 无损检测，不破坏检材
◆ 自动化程度高，操作方便
技术参数
◆ 最低绝对检出限：pg级（10－12g）；
◆ 最低相对检出限：ng/mL级（10－9）；
◆ 重复性：1%-3%（从常量到浓度为0.50mg/L-2.000mg/L）
◆ 稳定性：2%-4%（从常量到浓度为0.50mg/L-2.000mg/L）
◆ 单次可同时分析元素数量：近30种；
◆ 分析元素范围：Na-U
◆ 样品用量：μL、μg级；
◆ 定量方法：基本参数法；内标法；
◆ 测量时间：少于1000S
◆ 激发功率：小于500W |
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| 点击数：819 录入时间：2014-04-24 【打印此页】 【关闭】 |
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